АО НИИП

Стр.	Выпуск 1, 2023
5-9	Алгоритм оценки показателей стойкости ИС при воздействии импульсного гамма-нейтронного излучения *А.С. Пилипенко, И.А. Илларионова, М.И. Тихонов* ФГУП «Российский Федеральный Ядерный Центр – Всероссийский научно-исследовательский институт технической физики им. академ. Е.И. Забабахина» г. Снежинск, Челябинская область, Россия e-mail: A.S.Pilipenko@vniitf.ru На основе практического опыта исследований одиночных радиационных эффектов при нейтронном воздействии различной интенсивности и спектрального состава предложен алгоритм оценки уровня стойкости ИС по эффекту функционального сбоя (single event functional interrupt – SEFI) при импульсном гамма-нейтронном воздействии. Применяемый метод оценки является расчетно-экспери-ментальным и позволяет за относительно небольшое конечное число экспериментов получить оценку стойкости. Метод предполагает использование испытательных установок, работающих в статическом и импульсном режиме. Ключевые слова: одиночные сбои, сложно-функциональные СБИС, расчетно-экспериментальный метод, SEFI, импульсное гамма-нейтронное излучение.
10-15	Моделирование сбоев в ИС при импульсном нейтронном воздействии.Часть 3. Область средних интенсивностей А.И. Чумаков^1,2, Д.В. Бобровский^1,2, А.А. Смолин^1,2, Д.О. Титовец^1,2, А.В. Яненко^1,2, С.Ю. Дианков³, К.А. Чумаков⁴, О.А. Герасимчук¹ ¹Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ» ²АО «ЭНПО СПЭЛС» г. Москва, Россия e-mail: dotit@spels.ru ³ФГБУ «46 Центральный научно-исследовательский институт» Минобороны России г. Москва, Россия ⁴ФГУ «ФНЦ Научно-исследовательский институт системных исследований РАН» г. Москва, Россия Анализируются условия возникновения сбоев в области средних интенсивностей, которая является переходной: от области эффектов мощности дозы к эффектам одиночных сбоев. Показано, что в этой области имеют место одиночные радиационные эффекты (ОРЭ) на фоне протекания существенных ионизационных токов. Последние влияют на условие возникновение одиночных сбоев за счет изменений режимов функционирования элементов внутри интегральной микросхемы (ИС). Ключевые слова: сбои в ИС, импульсное нейтронное излучение, ионизационная реакция, объемная ионизация, ОРЭ, моделирование, интегрированная ионизационная реакция, область средних интенсивностей.
16-21	Влияние температуры эксплуатации на выходную мощность облучённого нейтронами лазерного диода при различных схемах подключения *О.В. Ткачев, С.М. Дубровских, А.С. Кустов, И.А. Иванова* ФГУП «Российский Федеральный Ядерный Центр – Всероссийский научно-исследовательский институт технической физики им. академ. Е.И. Забабахина» г. Снежинск, Челябинская область, Россия e-mail: dep5@vniitf.ru Представлены результаты радиационного отклика полупроводниковых лазерных диодов, излучающих на длине волны 965 нм, при вариации температурных режимов и схемы подключения лазера к источнику питания. Рассмотрен эффект срыва лазерной генерации при нейтронном облучении, эффект обусловлен дополнительным разогревом лазера, вызванным падением КПД лазера. Ключевые слова: лазерный диод, пороговый ток, вольт-амперные характеристики (ВАХ), ватт-амперные характеристики (ВтАХ), флюенс нейтронов, выходная мощность.
22-30	Распространение фронта фотообесцвечивания в протяжённых оптических средах при вариации параметров стимулирующего оптического излучения *А.А. Коновалов, С.М. Дубровских, О.В. Ткачёв* ФГУП «Российский Федеральный Ядерный Центр – Всероссийский научно-исследовательский институт технической физики им. академ. Е.И. Забабахина» г. Снежинск, Челябинская область, Россия e-mail: dep5@vniitf.ru Рассмотрены особенности протекания фотостимулированного отжига в протяженных средах, а именно процесса распространения фронта фотообесцвечивания в гамма-облучённых кварцевом и полимерном волокнах. Исследовано влияние длины волны, мощности зондирующего излучения и дозы гамма-излучения на параметры фронта фотообесцвечивания. Ключевые слова: оптическое волокно, ионизирующее излучение, экспозиционная доза гамма-излучения, радиационно-наведенное поглощение, радиационные центры окраски, фронт фотообесцвечивания, фотостимулированный отжиг, зондирующее излучение.
31-37	Пересчет показателей стойкости ЭКБ к воздействию ТЗЧ для реальных условий эксплуатации *Г.А. Протопопов, П.А. Чубунов, И.В. Скоркин* АО «Научно-исследовательский институт космического приборостроения» г. Москва, Россия e-mail: Protopopov_GA@orkkniikp.ru Представлены результаты анализа возможности пересчета показателей стойкости электронной компонентной базы к воздействию ионизирующих излучений космического пространства по одиночным радиационным эффектам для произвольной орбиты. Ключевые слова: ионизирующие излучения космического пространства, одиночные радиационные эффекты, радиационная стойкость, радиационные условия, тяжелые заряженные частицы, электронная компонентная база.
38-42	К вопросу о возможности продления срока эксплуатации средств измерений динамических характеристик импульсного тормозного излучения по окончании их назначенного срока эксплуатации *И.А. Бусыгина, Ю.С. Лойко, П.В. Москвич, А.В. Кириллов* АО «Научно-исследовательский институт приборов» г. Лыткарино, Московская обл., Россия e-mail: IABusygina@niipribor.ru Определены возможности продления срока службы средств измерений динамических характеристик импульсных полей тормозного излучения. Проведен ряд экспериментов на установках АРСА и РИУС-5, подтверждающих сохраняемость основной нормируемой метрологической характеристики динамических средств измерений после 10 лет эксплуатации. Исследованы метрологические характеристики динамических средств измерений АО «НИИП» при вводе их в эксплуатацию и через 10 лет применения. Подтверждена сохраняемость основной нормируемой метрологической характеристики – дозовой чувствительности средств измерений динамических характеристик (СД2, СКД1, ДППД1, ДППД2, ДАД1). Таким образом, в соответствии с ГОСТ РВ 0015-702-2019 «Порядок установления и продления назначенных ресурса, срока службы, срока хранения» определена возможность продления срока службы средств измерений динамических характеристик АО «НИИП». Ключевые слова: динамические детекторы, ускорители, динамические характеристики, дозовая чувствительность, эффективная длительность, дозовая нагрузка, срок эксплуатации, алмазные детекторы, полупроводниковые детекторы, кремниевые детекторы.